Elements of X-Ray Diffraction /
Contenido: Propiedades de los rayos X; La geometría de los cristales; Difracción I: la dirección de haces difractados; Difracción II: la intensidad de haces difractados; Fotografía Laue; Fotografía de poder; Medidas del difractómetro; Orientación de cristales simples; La estructura de agregados poli...
Guardat en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Format: | Llibre |
| Idioma: | anglès |
| Publicat: |
Reading, EUA :
Addison-Wesley,
1967, c1956
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| Col·lecció: | (Addison-Wesley Series in Metallurgy and Materials)
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| Matèries: | |
| Etiquetes: |
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MARC
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| 520 | |a Contenido: Propiedades de los rayos X; La geometría de los cristales; Difracción I: la dirección de haces difractados; Difracción II: la intensidad de haces difractados; Fotografía Laue; Fotografía de poder; Medidas del difractómetro; Orientación de cristales simples; La estructura de agregados policristalino; La determinación de la estructura cristalina; Parámetros de medidas precisas; Determinación de la fase de diagrama; Transformaciones ordenadas-desordenadas; Análisis químico por difracción; Análisis químico por fluorescencia; Análisis químico por absorción; Medidas de la tensión; Sugerencias futuras. | ||
| 649 | |a XX | ||
| 650 | |a Rayos X | ||
| 650 | |a Difracción | ||
| 650 | |a Haces Electrónicos | ||
| 650 | |a Cristales | ||
| 650 | |a Química Analítica - |x Equipo y Aparatos | ||
| 650 | |a Ondas Electromagnéticas | ||
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