Software Process and Product Measurement : International Conferences IWSM 2008, Metrikon 2008, and Mensura 2008 Munich, Germany, November 18-19, 2008. Proceedings /
保存先:
| 第一著者: | |
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| フォーマット: | 図書 |
| 言語: | 英語 |
| 出版事項: |
Berlín, Alemania :
Springer,
2008, c2008
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| シリーズ: | (Lecture Notes in Computer Science)
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| オンライン･アクセス: | Ver documento en línea |
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