Applied RHEED : Reflection High-Energy Electron Diffraction During Crystal Growth /
Αποθηκεύτηκε σε:
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | Αγγλικά |
| Έκδοση: |
Berlín, Alemania :
Springer,
1999, c1999
|
| Σειρά: | (Springer Tracts in Modern Physics)
|
| Διαθέσιμο Online: | Ver documento en línea |
| Ετικέτες: |
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|
Παρόμοια τεκμήρια: Applied RHEED :
- Investigating the Nucleation, Growth, and Energy Levels of Organic Semiconductors for High Performance Plastic Electronics /
- Implementación de un algoritmo y software para el procesamiento de imágenes RHEED /
- New Horizons of Applied Scanning Electron Microscopy /
- Applied Electronic Design /
- Applied Agrometeorology /
- Applied Stratigraphy /