Surface and Depth : Dialectics of Criticism and Culture /

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Shusterman, Richard (autor)
Format:	Buch
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	Ithaca, EUA : Cornell University, 2002, c2002
Schriftenreihe:	(Philosophy, Aesthetics)
Schlagworte:	Estética - > Tema Principal Cultura - > Filosofía Criticismo - > Tema Principal Criticismo - > Historia y Crítica Empirismo - > Historia y Crítica Arte - > Teoría Pragmatismo Filosofía del Siglo XXI Filosofía Norteamericana Croce, Benedetto Wittgenstein, Ludwig Hume, David Kant, Immanuel Locke, Alain Dewey, John Adorno, Theodor W. Danto, Arthur C. Margolis, Joseph Rorty, Richard Bourdieu, Pierre Eliot, T.S.
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