Desarrollo de un proceso de pruebas de confiabilidad para sistemas electrónicos y electromecánicos empleando la técnica de "pruebas de vida altamente aceleradas HALT" /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Ramírez Herrmann, Ricardo (autor)
Formato: Tesis Libro
Idioma:Español
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MIC. 19
Ejemplar 0500105313
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Préstamo 7 días a 90
Colección:
Tesis del ITESO en disco para préstamo
Notas:
Solicitar en Nivel 2 Sur Área de Audiovisuales y Periódicas
Ejemplar 0500105310
Deposito
Colección:
Tesis del ITESO en disco préstamo no autorizado
Notas:
Material no disponible