Testing of Digital Systems /

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Jha, Niraj K. (autor)
Άλλοι συγγραφείς: Gupta, Sandeep (autor) (autor)
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: Cambridge, Inglaterra : Cambridge University, 2003, c2003
Θέματα:
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!

MARC

LEADER 00000nam^a2200000^a^4500
001 000157865
005 20250521000000.0
009 20260310100553.045
020 |a 0-521-77356-3 
037 |a Acervo ITESO - Biblioteca 
041 |a ING 
082 |a 621. 3815  |b JHA 
100 |a Jha, Niraj K.  |e (autor) 
245 1 0 |a Testing of Digital Systems /  |c N.K. Jha, S. Gupta. 
264 4 |a Cambridge, Inglaterra :  |b Cambridge University,  |c 2003, c2003 
300 |a XVI, 1000 p. 
336 |a texto  |b txt  |2 rdacontenido 
337 |a sin mediación  |b n  |2 rdamedio 
338 |a volumen  |b nc  |2 rdasoporte 
649 |a XX 
650 |a Circuitos Integrados Digitales -  |x Prueba y Medición -  |x Tema Principal 
650 |a Componentes (Hardware) 
650 |a Electrónica Digital -  |x Equipo y Aparatos 
650 |a Ingeniería Electrónica 
700 |a Gupta, Sandeep  |e (autor) 
910 |a Fondo General 
920 |a Impresos - Libros 
930 |a Colección General 
905 |a 101 
901 |a 0500087763  |b IT1  |c ACC  |u 20250521 
902 |a https://opac.biblio.iteso.mx/vufind/Record/000157865