Handbook of Silicon Semiconductor Metrology /

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書目詳細資料
主要作者: Diebold, Alain C. (ed.)
格式: 圖書
語言:英语
出版: Nueva York, EUA : Marcel Dekker, 2001, c2001
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MARC

LEADER 00000nam^a2200000^a^4500
001 000134976
005 20260624000000.0
009 20260713133110.774
020 |a 0-8247-0506-8 
037 |a Acervo ITESO - Biblioteca 
041 |a ING 
082 |a 621. 38152  |b DIE 
100 |a Diebold, Alain C.  |e (ed.) 
245 1 0 |a Handbook of Silicon Semiconductor Metrology /  |c Ed. de A.C. Diebold. 
264 4 |a Nueva York, EUA :  |b Marcel Dekker,  |c 2001, c2001 
300 |a XVI, 874 p. 
336 |a texto  |b txt  |2 rdacontenido 
337 |a sin mediación  |b n  |2 rdamedio 
338 |a volumen  |b nc  |2 rdasoporte 
649 |a XX 
650 |a Silicio 
650 |a Transistores 
650 |a Semiconductores 
650 |a Circuitos Electrónicos 
650 |a Electrónica -  |x Equipo y Aparatos 
650 |a Electrónica 
650 |a Diseño Industrial 
650 |a Industria Electrónica 
650 |a Ingeniería Electrónica 
910 |a Fondo General 
920 |a Impresos - Libros 
930 |a Colección General 
905 |a 101 
901 |a 0500063884  |b IT1  |c ACC  |u 20260624 
902 |a https://opac.biblio.iteso.mx/vufind/Record/000134976