Tolerance Analysis of Electronic Circuits /

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Boyd, Robert R. (autor)
Format: Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Boca Ratón, EUA : CRC Press, 1999, c1999
Schlagworte:
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie das erste Tag hinzu!

MARC

LEADER 00000nam^a2200000^a^4500
001 000132788
005 20250521000000.0
009 20260310095108.752
020 |a 0-8493-2276-6 
037 |a Acervo ITESO - Biblioteca 
041 |a ING 
082 |a 621. 38150285  |b BOY 
100 |a Boyd, Robert R.  |e (autor) 
245 1 0 |a Tolerance Analysis of Electronic Circuits /  |c R.R. Boyd. 
264 4 |a Boca Ratón, EUA :  |b CRC Press,  |c 1999, c1999 
300 |a X, 147 p. 
336 |a texto  |b txt  |2 rdacontenido 
337 |a sin mediación  |b n  |2 rdamedio 
338 |a volumen  |b nc  |2 rdasoporte 
649 |a XX 
650 |a Circuitos Electrónicos 
650 |a Circuitos Eléctricos 
650 |a Proceso de Datos 
650 |a Paquetes (Software) 
650 |a Ingeniería Electrónica 
650 |a Ingeniería Eléctrica 
650 |a Ingeniería Computacional 
910 |a Fondo General 
920 |a Impresos - Libros 
930 |a Colección General 
905 |a 101 
901 |a 0500061886  |b IT1  |c ACC  |u 20250521 
902 |a https://opac.biblio.iteso.mx/vufind/Record/000132788