Cita APA (7a ed.)
Ray F. Egerton. Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM. Springer.
Cita estilo Chicago (17a ed.)
Ray F. Egerton. Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM. Nueva York, EUA: Springer.
Cita MLA (9a ed.)
Ray F. Egerton. Physical Principles of Electron Microscopy: An Introduction to TEM, SEM, and AEM. Springer.
Precaución: Estas citas no son 100% exactas.