James Wayman, A. J. Biometric Systems: Technology, Design and Performance Evaluation. Springer.
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Cita estilo Chicago (17a ed.)
James Wayman, Anil Jain. Biometric Systems: Technology, Design and Performance Evaluation. Londres, Inglaterra: Springer.
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Cita MLA (9a ed.)
James Wayman, Anil Jain. Biometric Systems: Technology, Design and Performance Evaluation. Springer.
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