Khalid Saeed, T. N. Biometrics and Kansei Engineering. Springer.
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Cita estilo Chicago (17a ed.)
Khalid Saeed, Tomomasa Nagashima. Biometrics and Kansei Engineering. Nueva York, EUA: Springer.
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Cita MLA (9a ed.)
Khalid Saeed, Tomomasa Nagashima. Biometrics and Kansei Engineering. Springer.
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