M. Ümit Uyar, A. Y. D. Testing of Communicating Systems: 18th IFIP TC 6/WG 6.1 International Conference, TestCom 2006, New York, NY, USA, May 16-18, 2006, Proceedings. Springer.
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Cita estilo Chicago (17a ed.)
M. Ümit Uyar, Ali Y. Duale. Testing of Communicating Systems: 18th IFIP TC 6/WG 6.1 International Conference, TestCom 2006, New York, NY, USA, May 16-18, 2006, Proceedings. Berlín, Alemania: Springer.
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Cita MLA (9a ed.)
M. Ümit Uyar, Ali Y. Duale. Testing of Communicating Systems: 18th IFIP TC 6/WG 6.1 International Conference, TestCom 2006, New York, NY, USA, May 16-18, 2006, Proceedings. Springer.
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