System-on-Chip Test Architectures : Nanometer Design for Testability - Wang, Laung-Terng ((The Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon))
Contenido: 1) Introducción; 2) Prueba digital de arquitectura; 3) Diseño falla-tolerancia; 4) Prueba de arquitectura sistema/red en un chip; 5) Prueba de arquitectura SIP; 6) Demora de prueba; 7) Prueba de baja potencia; 8) Enfrentar las fallas físicas, pequeños errores y problemas de confiabilidad; 9) Diseño para la manufactura y producción; 10) Diseño para depurar y diagnóstico; 11) Software de auto prueba; 12) Prueba de campos programables de compuertas; 13) Pruebas de memorias MEMS; 14) Interfases I/O de alta velocidad; 15) Prueba de arquitectura de señales mixtas y análogas; 16) Prueba de radiofrecuencia; 17) Aspectos de prueba en nanotecnología.