Digital Circuit Testing A Guide to DFT and Other Techniques Wang, Francis C. creator (autor) text monographic ING XI, 233 p. F.C. Wang. XX Circuitos Integrados Digitales - Prueba y Medición - Tema Principal Circuitos Integrados Electrónica Digital Ingeniería Electrónica 621. 3950287 WAN 0-12-734580-9 Acervo ITESO - Biblioteca 20260624000000.0 000265205